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亿光EL30系列光耦及过零检测

发布时间:2020-08-17 16:08  作者:超毅电子  点击次数:

     驱动大功率交流器件时常用双向可控硅进行功率控制,根据控制方式的不同有过零控制和移相控制。不管哪种控制都要对零点进行检测,因为双向过控硅的特性是到了交流的零点,可控硅会自动关闭输出。我们检测零点目的就是可控硅在零点关闭输出后,我们可以根据功率的需求选择时间来重新触发可控硅。      

      但对于单片机弱电直接控制交流肯定是不现实的,用继电器控制只能实现简单的慢速的开关量控制,而如果要实现功率调节,我们就需要用光特性的固态继电器,这种器件比较贵。而假如用光耦肯定也是不行的,因为普通的光耦是单向器件,对于交流的网电它是不能实现控制的。

      在这种情况下,我们最好的选择就是用EL30XX 系列的光控可控硅,用得最多的EL3053 和EL3083,它们的前端触发电流都是5mA,隔离电压达到5000Vrms,适合于对电绝缘特性要求高的工控或医疗电子行业。

     EL3053 和EL3083 的主要区别就是EL3083 有过零检测,对于有过零检测功能的EL3083,它每次在过零点的时候会判断有没有光输入,即有没有前置电流If,如果有If,那么在这个周期之内,它是导通的,所以它只能决定一个网电源周期内它是不是导通的,而不能决定在一个周期的某一个时刻开始导通。基于这种特性我们可以用它来实现过零控制,过零控制的缺点是控制精度低,优点是对电网没有污染。

      对于没有过零检测的EL3053 来说,它在有光输入的时刻开始到这个周期的结束它都是导通的。基于这种特性,如果我们已经检测到了零点,我们就可以在零点的时刻开始延时一段时间来输入前置电流If,用它来实现移相检测。

PS:如需EL3053 和EL3083等光耦产品资料及样品测试、技术支持、库存等,欢迎联系超毅电子。

 

 

 

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